光(guang)伏(fu)組件PID效(xiao)應是(shi)什么意思？提及光(guang)伏(fu)組件，必然要注意其兩大效(xiao)應，一(yi)個是(shi)熱(re)斑(ban)效(xiao)應，一(yi)個是(shi)PID效(xiao)應，那么，光(guang)伏(fu)PID效(xiao)應是(shi)什么？

PID的(de)英(ying)文(wen)全(quan)稱是(shi)：Potential Induced Degradation，即電(dian)勢誘導衰減(jian)。

2005年(nian)美國SunPower公司首次(ci)發現并提(ti)出PID效(xiao)應，指組(zu)件長期(qi)在(zai)(zai)高電壓工作，在(zai)(zai)蓋(gai)板(ban)玻(bo)璃、封裝(zhuang)材(cai)料(liao)、邊(bian)框之間(jian)存在(zai)(zai)漏電流(liu)，大量電荷聚集在(zai)(zai)電池(chi)片表(biao)面，使得電池(chi)片表(biao)面的鈍化效(xiao)果惡化，導(dao)致填充因子、短路(lu)電流(liu)、開路(lu)電壓降低，使組(zu)件性能低于(yu)設計標準(zhun)，但此衰(shuai)減是可逆的。

也有研(yan)究發(fa)現并(bing)對PID效(xiao)應作出(chu)解釋：光(guang)伏(fu)組件(jian)在受到負偏壓時，由漏電(dian)流(liu)陽極(ji)離子（一般(ban)為Na離子）流(liu)入電(dian)池(chi)片，降(jiang)低電(dian)池(chi)的并(bing)聯(lian)電(dian)阻。即，半導(dao)體(ti)內(nei)出(chu)現了(le)雜(za)質，這(zhe)些雜(za)質會形成(cheng)電(dian)池(chi)內(nei)部的導(dao)電(dian)通道，降(jiang)低了(le)組件(jian)的電(dian)流(liu)輸出(chu)。

第(di)三種產生(sheng)光伏(fu)(fu)組件PID效應(ying)的原因是：光伏(fu)(fu)組件的邊緣部分容(rong)易有水氣進入，EVA發生(sheng)水解(jie)后會生(sheng)成醋(cu)酸，醋(cu)酸和玻璃中的Na反(fan)應(ying)，可以生(sheng)成大量的自由移動的Na離子，會與電池(chi)片(pian)表面的銀柵(zha)線發生(sheng)反(fan)應(ying)，從而腐蝕電池(chi)柵(zha)線，導致串聯(lian)電阻的升(sheng)高，導致組件性能衰(shuai)減(jian)，此類衰(shuai)減(jian)不(bu)可恢復。

可知，光伏組(zu)件(jian)PID效應形成的原因主要有兩類：

1.原PN結電(dian)場情況(kuang)改變，或存(cun)在其它(ta)的(de)電(dian)流通道，造(zao)成實際流過PN結的(de)光生電(dian)流減小；

2.器件受到離子遷移的影響(xiang)，材料性能發生了不可恢復的變(bian)(bian)化，和原始制造出的組(zu)件相比(bi)，輸出功率變(bian)(bian)小(xiao)。

目前，根據光(guang)伏組件PID效應產(chan)生(sheng)原因(yin)，盡管可分(fen)別從電池、組件和系統端減弱或避免PID，但PID效應的(de)影響最(zui)終還是(shi)體(ti)現(xian)在電池片上。因(yin)此，建議電池廠家(jia)對(dui)產(chan)品進行更(geng)全方位的(de)研究，上下游結合，整體(ti)考慮性價比高的(de)解決方案(an)。

萊科斯（LAILX）致力于光伏檢測設備的研發與生產，現有設備包括 EL檢測系列(lie)，便攜(xie)式EL檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi)，組串式EL檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi)，無人機EL測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(yi)，IV功率(lv)測(ce)(ce)(ce)試系列(lie)，便攜(xie)式IV測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(yi)，電能質量分析儀(yi)(yi)，等相關(guan)光伏(fu)電站檢(jian)測(ce)(ce)(ce)設備與光伏(fu)產(chan)線實驗(yan)室(shi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)設備，